Veltek Associates, Inc. (VAI®) se complace en anunciar la incorporación de la línea SMA MicroParticle ICS de contadores de partículas no viables a nuestra cartera de control de la contaminación. Como parte de nuestra División de Monitorización de Control Ambiental, los instrumentos SMA MicroParticle ICS se utilizan para la monitorización continua o periódica del recuento de partículas en salas blancas y entornos críticos.
Los sistemas SMA MicroParticle ICS utilizan la última innovación en tecnología de recuento de partículas y disponen de varias características que no se encuentran en otros contadores de partículas.