Contadores de Partículas No Viables

Contadores de Partículas No Viables

CONTADORES DE PARTÍCULAS NO-VIABLES SMA MICROPARTICLE ICS
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Veltek Associates, Inc (VAI®) se complace en anunciar la incorporacón de la línea SMA MicroParticle ICS de contadores de partículas no viables a nuestro portafolio de control de contaminación. Como parte de nuestra División de Monitoreo de Control Ambiental, los instrumentos de SMA Microparticle ICS se utilizan para monitoreo continuo o periódico de conteo partículas en cuartos limpios y ambientes controlados.

Los sistemas SMA MicroParticle ICS utilizan la más innovadora tecnología en conteo de partículas y diversas características que no tienen otros contadores de partículas.

Aprende cómo el muestreador SMA MicroParticle ICS mide y monitorea los niveles de contaminación en areas limpias y controladas
Contadores de Partículas No Viables
Multi-Proceso
Multi-Proceso
Permite a la unidad procesar simultáneamente, llevar a cabo tareas, y registrar información como humedad, temperatura, y conteo de partículas a toda velocidad sin interrumpir el muestreo.
Medidor en Tiempo-Real
Medidor en Tiempo-Real
Muestra el conteo de partículas por segundo, por canal. lo cual ayuda a los usuarios a localizar la fuente exacta de contaminación.
Notas
Notas
En este campo se pueden agregar notras a cualquier registro mientras que la unidad está haciendo el conteo.
Manejo de energia avanzado
Manejo de energia avanzado
Las unidades cuentan con un conrol de energia avanzado, incluye modo de suspención lo que permite un tiempo de vida de la bateria por más de 10 horas para muestreos muy largos
Almacenamiento de datos
Almacenamiento de datos
El instrumento tiene una capacidad de almacenamiento de hasta 45000 registro de datos para una muestra. Manejo de muestras - Permite la creación de hasta 1000 ubicaciones de muestreo con hasta 50 recetas (por ejemplo numero de muestras, tiempo de muestreo, intervalos, etc)
Reportes
Reportes
Permite imprimir o visualizar los reportes que cumplen con ISO 14644-1, EU GMP anexo 1 y Federal Standard 209E
Tres modelos para la detección de particulas