Veltek Associates, Inc (VAI®) se complace en anunciar la incorporación de la línea SMA MicroParticle ICS de contadores de partículas no viables a nuestro portafolio de control de contaminación. Como parte de nuestra División de Monitoreo de Control Ambiental, los instrumentos de SMA Microparticle ICS se utilizan para el monitoreo continuo o periódico de conteo de partículas en cuartos limpios y ambientes controlados.
Los sistemas SMA MicroParticle ICS utilizan la más innovadora tecnología en conteo de partículas y diversas características que no tienen otros contadores de partículas.